· 由分子量標定曲線及峰切片面積計算高分子物質的各種統計分子量（數均、重均、Z均、Z+1均、粘均、10%面積前重均、90%面積后重均）及分子量分布寬度指數、累積重量分布曲線、切片細節。
· 提供窄分布校正和寬分布校正兩種校正方式。
· 可同時存儲多根柱子的分子量標定曲線。
· 待測樣品峰可作為一個整體或切割為若干個峰分別進行分子量計算。
· 可由若干組實測運動粘度及分子量數據回歸普適校正參數α、K。
· 可對負峰進行翻轉以消除倒吸峰的影響。
· 同時含有審計追蹤和用戶權限管理功能，符合國家藥典委員會新版藥典規定。
· 如果原儀器配套軟件可輸出AIA（或ANDI）格式（文件名后綴為cdf）的文件，則可不連接信號采集器。
· 可選擇中文版或英文版。